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HyProbe 175 PIN

细间距高速数据接口解决方案 

采用细间距（Fine Pitch）设计，支持超小型半导体器件的精密检测。
通过高速数据传输，确保稳定的信号完整性。凭借高耐久性的探针结构，
即使在反复测试的情况下，也能保持可靠稳定的性能。可灵活应用于各
种半导体检测工艺。 

  • 细间距连接器：0.175mm（0.15mm～）
  • Pin 使用寿命：约 30 万次以上
  • 高速数据传输速率：>30Gbps（GSSG）
  • 便捷的维护方式（侧板可拆卸）
  • 提供多种形式的 175 PIN 产品
  • 支持快速量产，并实施一致的品质管理
  • 支持定制化设计

主要应用领域

1

超精细 Fine Pitch（0.15mm） 

 通过精密的结构设计，支持最小约 0.15mm 的细间距（Fine Pitch）连接器，在高密度设计中有效提升空间利用率。 
2

卓越的耐久性（超过 30 万次） 

具备约 30 万次以上的耐久性能，
即使长期使用，
也能保持稳定可靠的性能。 
3

高速数据传输（>30Gbps（GSSG））

通过精密的结构设计，
即使在高速数据传输信号环境下，
也能确保稳定可靠的性能。 
4

便捷的维护（Pin 更换） 

采用侧板（Side Plate）可拆卸式结构，
可方便快捷地进行 Pin 更换。

5

快速量产支持 

通过内部自主设计与制造，
可在短时间内满足大批量生产需求，
并提供稳定可靠的产品供应。 
6

一致的品质管理 

通过标准化的质量管理流程，
确保所有产品具备一致的尺寸
和稳定的性能。 
7

定制化设计支持 

可根据客户的系统及应用环境，
提供定制化设计方案。 

探针类型 


Item
Hyprobe-H
Hyprobe 175 (A)
Hyprobe 175 (M)
Hyprobe - S175 (M)
Probe Shape
Connector
Application
Camera, Display
Camera
Display
Display
Specifications

Probe Height : 4.7,6.5,7.6mm

Max. stroke : 0.35mm

Force(CNT) : 23.7gf@0.3mm

Force(PCB) : 35gf@0.15mm

Data rate : 40Gbps

Contact Resistance : 60mΩ

Max Current : 1.5A

Reliability : 500,000 cycles

Probe Height : 4.7mm

Max. stroke : 0.30mm

Force(CNT) : 18.8gf@0.25mm

Force(PCB) : 31gf@0.15mm

Data rate : 30Gbps

Contact Resistance : 100mΩ

Max Current : 1.0A

Reliability : 300,000 cycles

Probe Height : 5.0mm

Max. stroke : 0.30mm

Force(CNT) : 19.4gf@0.25mm

Force(PCB) : 43gf@0.15mm

Data rate : 30Gbps

Contact Resistance : 60mΩ

Max Current : 1.0A

Reliability : 300,000 cycles

Probe Height : 3.5mm

Max. stroke : 0.30mm

Force(CNT) : 22gf@0.25mm

Force(PCB) : 40gf@0.15mm

Data rate : 10Gbps

Contact Resistance : 60mΩ

Max Current : 1.5A

Reliability : 300,000 cycles

主要应用领域


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